測試能力               

單顆粒子強度                  

單顆粒子直徑                  

單顆粒子硬度                  

計算粒子的特征            

力測量細節(jié)             

范圍（大）  250 cN          

偏差      ±2 cN          

相對偏差      ±1 cN

(兩個測試之間)

粒子尺寸測試細節(jié)        

范圍     0.8到3mm(可根據(jù)不同粒

         子大小更換tip 尺寸）  

TIP Small                        

Tip Middle                       

Tip Large                        

偏差   ± 0.1  mm          

相對偏差   ± 0.02  mm        

高分辨率測量Vs 壓縮炭黑

步進電機給定    0.00172mm/step

力測量         每秒50讀書

校準                    

在每一系列炭黑測試前進行自動校準

(n=typically 20 resp.50)            

力矩傳感器                     

零位點                         

設(shè)備在負載下的偏差  

 測試模式（可選擇）     

ASTM D5230    恒定的速度  

               Mm/sec

ASTM D3313    恒定的力      

               Cn/sec

存樣轉(zhuǎn)盤                   

采樣率         55.6 Hz

采樣轉(zhuǎn)盤       共14個樣品口方便測試

安全標準                   

認證                       CE marking

SGS-USTC certified

設(shè)備表面                     

與計算機通訊的RS232 通訊串口          

為存樣自動轉(zhuǎn)盤留取的第二個串口  

軟件                         

HITEC Applications                       

操作環(huán)境     Microsoft windows 32/64 bit        

             XP/W7/W8／win10

特點                              

自動認證測試結(jié)果        

附帶PDF電子操作手冊    

擴展數(shù)據(jù)處理            

擴展維護保養(yǎng)支持        

多可以在同一臺計算機

操作四臺設(shè)備（包括IPHT/DABS）            

操作語言（英語，德語，法語）   

軟件可以安裝在個人電腦 

固定載重無需反復校準